TECH PHYS LETT+, 2021, 47(4):287-289
Developing Low-Profile Deflectometer for Combined Scanning Probe and Optical Microscopy Systems
We have developed, manufactured, and tested a system of low-profile scanning probe microscopy (SPM) deflectometer capable of increasing the numerical aperture of objectives to a record high value of NA = 0.75. Implementation of this system will significantly improve performance characteristics of the optical microspectroscopy (OM) methods realized in combined SPM/OM systems.
Scopus: 2-s2.0-85121149828
IBCH: 9649
Ссылка на статью в журнале: https://link.springer.com/10.1134/S1063785021030238
Кол-во цитирований на 01.2024: 0
Данные статьи проверены модераторами 2021-12-20
Список научных проектов, где отмечена публикация
- -Разработка инструментального метод наномасштабной объемной визуализации и спектрального анализа для применения в биомедицинских исследованиях - 3D TERS (January 6, 2018 December 31, 2020). . Grant, RSF.