TECH PHYS LETT+, 2021, 47(4):287-289

Developing Low-Profile Deflectometer for Combined Scanning Probe and Optical Microscopy Systems

We have developed, manufactured, and tested a system of low-profile scanning probe microscopy (SPM) deflectometer capable of increasing the numerical aperture of objectives to a record high value of NA = 0.75. Implementation of this system will significantly improve performance characteristics of the optical microspectroscopy (OM) methods realized in combined SPM/OM systems.

Mezin AV, Efimov AE, Solovyeva DO, Vaskan IS, Oleinikov VA, Mochalov KE

Отдел биоматериалов и бионанотехнологий, Лаборатория молекулярной биофизики

: 10.1134/S1063785021030238
Scopus: 2-s2.0-85121149828
IBCH: 9649
Ссылка на статью в журнале: https://link.springer.com/10.1134/S1063785021030238
Кол-во цитирований на 01.2024: 0
Данные статьи проверены модераторами 2021-12-20

Список научных проектов, где отмечена публикация

  1. Разработка инструментального метод наномасштабной объемной визуализации и спектрального анализа для применения в биомедицинских исследованиях - 3D TERS (6 Января 2018 года — 31 Декабря 2020 года). Мочалов К.Е.. Грант, РНФ.